원본 링크외관 검사
반도체 양품·불량 이미지
Semiconductor Dataset — Good and NG Images
양품(Good)과 불량(NG)으로 나뉜 반도체 이미지 모음. 가장 기본적인 검사 분류 과제.
- 과제
- 이진 이미지 분류 (Good / NG)
- 규모
- 이미지 (ZIP)
- 라이선스
- 원본에 명시되지 않음 — 사용 전 확인 필요
이 데이터는
반도체 부품 이미지를 양품과 불량으로 나눠 놓은 데이터입니다. 딥러닝 검사 모델을 처음 만들어 볼 때 쓰기 좋은 규모와 난이도입니다.
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