데이터
반도체 데이터셋
공정·검사 공개 데이터를 한곳에 모았습니다. 1종은 우리 서버에서 바로 받고 노트북에서 URL 하나로 불러 쓸 수 있습니다.
바로 받기공정 모니터링 · 수율 예측SECOM 반도체 공정 센서 데이터SECOM Semiconductor Manufacturing Process반도체 생산 라인의 센서 590개를 한 줄로 찍은 1,567개 런. 어떤 런이 불량으로 끝날지 맞히는 문제.1,567행 × 590센서 · 불량 104건(6.6%)CC BY 4.0
원본 링크결함 분류 · 근본 원인 추적WM-811K 웨이퍼 맵WM-811K Wafer Map Dataset실제 팹에서 나온 웨이퍼 맵 81만 장. 불량 패턴 9종이 라벨링돼 있어 결함 분류의 표준 벤치마크.81만 장 (라벨 17만 장) · 9개 패턴CC0 (퍼블릭 도메인)
원본 링크표면 결함 검사반도체 표면 스크래치 분할 데이터셋Semiconductor Scratch Segmentation Dataset반도체 표면 이미지에 긁힘을 픽셀 단위로 표시한 데이터. 분할(segmentation) 과제용.이미지 + 픽셀 마스크 (ZIP)원본에 명시되지 않음 — 사용 전 확인 필요
원본 링크외관 검사반도체 양품·불량 이미지Semiconductor Dataset — Good and NG Images양품(Good)과 불량(NG)으로 나뉜 반도체 이미지 모음. 가장 기본적인 검사 분류 과제.이미지 (ZIP)원본에 명시되지 않음 — 사용 전 확인 필요
원본 링크성능 추이 · 수율 · 수급 예측반도체 공정 최적화·예측 데이터 모음DDO-Semiconductor칩 성능 추이, 공정 특징 선택, 웨이퍼 불량률, 반도체 수급까지 네 갈래 데이터를 한 저장소에.CSV 4종 (약 6.5 MB)저장소에 라이선스 표기 없음 — 재배포하지 않고 링크만 겁니다
원본 링크이상 탐지 · 외관 검사Semi-AD 반도체 이상 탐지Semi-AD (Semiconductor Anomaly Detection) dataset정상 참조 이미지와 검사 이미지를 쌍으로 준다. 불량 예시 없이 정상만 배워 미세 결함을 찾는 과제.3개 부분집합 · 약 4.49 GB (BMP/PNG)원본에 명시되지 않음 · IEEE DataPort 구독 필요
원본 링크결함 분류 (혼합 패턴)MixedWM38 혼합형 웨이퍼 결함 패턴MixedWM38 Mixed-type Wafer Defect Pattern한 웨이퍼에 결함 패턴이 여러 개 겹쳐 나타나는 38종 조합. 실제 팹에 더 가까운 난이도.혼합 패턴 38종원 데이터셋 라이선스 확인 필요원본 링크이상 탐지 · 이상 위치 추정VisA 산업 이상 탐지 벤치마크VisA (Visual Anomaly)PCB·부품 12종의 정상/이상 이미지에 픽셀 마스크까지. 이상 탐지 연구의 표준 비교군.10,821장 (정상 9,621 · 이상 1,200) · 12개 부분집합CC BY원본 링크기판 검사Deep PCB 기판 결함Deep PCBPCB 이미지에서 결함 위치를 찾는 검출 데이터셋. 후공정 기판 검사 입문용.이미지 (규모 미표기)원본에 명시되지 않음 — 사용 전 확인 필요원본 링크이상 탐지 · 결함 분할3CAD 전자부품 이상 탐지3CAD8개 부품군 27,039장. 픽셀 마스크와 불량 유형 라벨이 함께 붙은 최신 벤치마크(2025).27,039장 · 8개 제품군원본에 명시되지 않음 — 사용 전 확인 필요원본 링크공정 모니터링웨이퍼 제조 이상 탐지 (표 형식)Detecting Anomalies in Wafer Manufacturing웨이퍼 공정 센서 값을 표로 정리한 작은 데이터. SECOM 다음으로 가볍게 붙어볼 만한 과제.학습 1,763행 · 테스트 756행원본에 명시되지 않음 · Kaggle 로그인 필요원본 링크데이터셋 탐색산업 데이터셋 모음 (반도체 포함)Awesome Industrial Datasets제조·산업 공개 데이터셋을 라이선스·규모·과제별로 정리한 목록. 반도체·PCB 항목이 여럿.200여 개 데이터셋 색인목록 자체는 저장소 라이선스, 각 데이터셋은 개별 라이선스