원본 링크결함 분류 (혼합 패턴)
MixedWM38 혼합형 웨이퍼 결함 패턴
MixedWM38 Mixed-type Wafer Defect Pattern
한 웨이퍼에 결함 패턴이 여러 개 겹쳐 나타나는 38종 조합. 실제 팹에 더 가까운 난이도.
- 과제
- 다중 라벨 이미지 분류 (38종 조합)
- 규모
- 혼합 패턴 38종
- 라이선스
- 원 데이터셋 라이선스 확인 필요
이 데이터는
WM-811K 는 웨이퍼 한 장에 패턴 하나를 가정하지만 실제로는 링과 스크래치가 함께 나타나는 식으로 겹치는 경우가 많습니다. MixedWM38 은 그런 혼합 패턴 38종을 담아 단일 라벨 분류가 아니라 다중 라벨 문제로 다루게 합니다.
패턴이 겹치면 원인도 여럿입니다. 그래서 분류 결과를 설비 점검 순서로 옮기는 연습까지 하게 됩니다.