원본 링크이상 탐지 · 외관 검사
Semi-AD 반도체 이상 탐지
Semi-AD (Semiconductor Anomaly Detection) dataset
정상 참조 이미지와 검사 이미지를 쌍으로 준다. 불량 예시 없이 정상만 배워 미세 결함을 찾는 과제.
- 과제
- 비지도 이상 탐지 (참조-검사 쌍)
- 규모
- 3개 부분집합 · 약 4.49 GB (BMP/PNG)
- 라이선스
- 원본에 명시되지 않음 · IEEE DataPort 구독 필요
이 데이터는
같은 위치를 찍은 정상 참조 이미지와 검사 이미지를 정렬해 쌍으로 제공합니다. 픽셀 차이를 보면 결함 영역이 드러나는 구조라 불량 사진을 거의 못 구하는 현장 상황을 그대로 옮겨 놓은 데이터입니다.
칩 면(Chip-side), 볼 면(Ball-side), 패턴 웨이퍼 세 갈래로 나뉘고 이미지는 256×256 · 200×200 입니다. 불량 라벨을 모으기 어려운 실제 검사 공정에서 왜 비지도 이상 탐지가 쓰이는지 체감하기 좋습니다.