원본 링크공정 모니터링
웨이퍼 제조 이상 탐지 (표 형식)
Detecting Anomalies in Wafer Manufacturing
웨이퍼 공정 센서 값을 표로 정리한 작은 데이터. SECOM 다음으로 가볍게 붙어볼 만한 과제.
- 과제
- 이상 탐지 · 이진 분류
- 규모
- 학습 1,763행 · 테스트 756행
- 라이선스
- 원본에 명시되지 않음 · Kaggle 로그인 필요
- 출처
- Kaggle ↗
이 데이터는
웨이퍼 제조 공정에서 얻은 측정값을 표로 정리하고 정상/이상 라벨을 붙인 데이터입니다. 학습 1,763행 · 테스트 756행으로 작아서 SECOM 에서 익힌 방법을 다른 데이터에 그대로 옮겨 보는 연습에 좋습니다.
받는 곳
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