Semiconductor AI & Coding Bootcamp학습 시작
WM-811K Wafer Map Dataset
실제 팹에서 나온 웨이퍼 맵 81만 장. 불량 패턴 9종이 라벨링돼 있어 결함 분류의 표준 벤치마크.
EDS 검사에서 나온 불량 좌표를 이미지로 만든 웨이퍼 맵 모음입니다. 811,457장 중 172,950장에 9가지 패턴(Center, Donut, Edge-Loc, Edge-Ring, Loc, Random, Scratch, Near-full, none)이 라벨로 붙어 있습니다.
이 데이터에서는 패턴이 곧 원인을 가리킵니다 — 스크래치는 취급 손상, 링은 연마 불균일, 반복되는 격자는 노광 스테퍼. 그래서 단순 분류만이 아니라 「모델이 물리를 배웠는가, 아니면 픽셀 배치를 외웠는가」를 시험하는 과제로도 쓰입니다.
이 데이터는 라이선스가 재배포를 허용하지 않거나 원본이 로그인·대용량이라 우리 서버에 담아 두지 않았습니다. 아래 원본에서 직접 받아 주세요.
원본에서 받기 ↗불량 패턴 9종을 분류하는 데서 멈추지 않고 각 패턴이 어느 공정·설비를 가리키는지 표로 이어 붙인다.
완료 기준 혼동행렬에서 헷갈리는 두 패턴을 짚고 왜 헷갈리는지 물리로 설명할 수 있으면 완료.
numpyscikit-learnmatplotlib
웨이퍼 맵 배열을 받아 그림으로 그려 주는 함수를 직접 만들고 패턴을 눈으로 비교한다.
완료 기준 패턴 이름을 가리고도 그림만 보고 구분할 수 있으면 완료.
numpymatplotlib